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J-GLOBAL ID：201002210777128482   整理番号：10A0176734

Bi₂Te₃の表面上の電子波のSTMイメージング

STM Imaging of Electronic Waves on the Surface of Bi₂Te₃: Topologically Protected Surface States and Hexagonal Warping Effects

著者 (15件)： ALPICHSHEV Zhanybek (Stanford Inst. Materials and Energy Sci., California, USA) ,  ALPICHSHEV Zhanybek (Stanford Univ., California, USA) ,  ANALYTIS J. G. (Stanford Inst. Materials and Energy Sci., California, USA) ,  ANALYTIS J. G. (Stanford Univ., California, USA) ,  CHU J.-H. (Stanford Inst. Materials and Energy Sci., California, USA) ,  CHU J.-H. (Stanford Univ., California, USA) ,  FISHER I. R. (Stanford Inst. Materials and Energy Sci., California, USA) ,  FISHER I. R. (Stanford Univ., California, USA) ,  CHEN Y. L. (Stanford Inst. Materials and Energy Sci., California, USA) ,  CHEN Y. L. (Stanford Univ., California, USA) ,  SHEN Z. X. (Stanford Inst. Materials and Energy Sci., California, USA) ,  SHEN Z. X. (Stanford Univ., California, USA) ,  FANG A. (Stanford Univ., California, USA) ,  KAPITULNIK A. (Stanford Inst. Materials and Energy Sci., California, USA) ,  KAPITULNIK A. (Stanford Univ., California, USA)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 104  号： 1  ページ： 016401.1-016401.4  発行年： 2010年01月08日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *テルル化物 ,  *ビスマス化合物 ,  化合物半導体 ,  *表面 ,  *電子波 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  顕微鏡観察 ,  角度分解分光法 ,  光電子分光法 ,  状態密度 ,  表面ステップ ,  *バンド構造 ,  波数ベクトル
準シソーラス用語： *テルル化ビスマス ,  角度分解光電子分光法 ,  局所状態密度 ,  波動ベクトル

分類 (1件)： 表面の電子構造  (BM02080J)

タイトルに関連する用語 (3件)： 電子波 ,  STM ,  イメージング