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J-GLOBAL ID：201002212572642500   整理番号：10A0621409

無歪のSrTiO₃薄膜における強誘電性

Ferroelectricity in Strain-Free SrTiO₃ Thin Films

著者 (19件)： JANG H.W. (Univ. Wisconsin, Wisconsin, USA) ,  KUMAR A. (Pennsylvania State Univ., Pennsylvania, USA) ,  DENEV S. (Pennsylvania State Univ., Pennsylvania, USA) ,  BIEGALSKI M.D. (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  MAKSYMOVYCH P. (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  BARK C.W. (Univ. Wisconsin, Wisconsin, USA) ,  NELSON C.T. (Univ. Michigan, Michigan, USA) ,  FOLKMAN C.M. (Univ. Wisconsin, Wisconsin, USA) ,  BAEK S.H. (Univ. Wisconsin, Wisconsin, USA) ,  BALKE N. (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  BROOKS C.M. (Pennsylvania State Univ., Pennsylvania, USA) ,  BROOKS C.M. (Cornell Univ., New York, USA) ,  TENNE D.A. (Boise State Univ., Idaho, USA) ,  SCHLOM D.G. (Cornell Univ., New York, USA) ,  CHEN L.Q. (Pennsylvania State Univ., Pennsylvania, USA) ,  PAN X.Q. (Univ. Michigan, Michigan, USA) ,  KALININ S.V. (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  GOPALAN V. (Pennsylvania State Univ., Pennsylvania, USA) ,  EOM C.B. (Univ. Wisconsin, Wisconsin, USA)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 104  号： 19  ページ： 197601.1-197601.4  発行年： 2010年05月14日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： 強誘電性 ,  *チタン酸ストロンチウム ,  *強誘電体 ,  誘電体薄膜 ,  誘電率 ,  温度依存性 ,  残留分極 ,  第二高調波発生 ,  力顕微鏡 ,  顕微鏡観察 ,  Ramanスペクトル ,  リラクサ ,  格子歪
準シソーラス用語： *無歪 ,  圧電応答力顕微鏡 ,  リラクサ強誘電体

分類 (1件)： 強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B)

タイトルに関連する用語 (3件)： 歪 ,  薄膜 ,  強誘電性