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J-GLOBAL ID：201002212761335545   整理番号：10A1416420

縮退故障シミュレータを用いたトランジスタ短絡のためのテスト発生とテスト発生器

Test generation for transistor shorts using stuck-at fault simulator and test generator

著者 (5件)： HIGAMI Y ,  SALUJA Kk ,  TAKAHASHI H ,  KOBAYASHI Sy ,  TAKAMATSU Y
資料名： PROCEEDINGS OF THE 16TH ASIAN TEST SYMPOSIUM
ページ： 271-274  発行年： 2007年 
JST資料番号： I20070945  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： その他 (ZZZ)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (6件)： 縮退故障 ,  シミュレータ ,  トランジスタ ,  短絡 ,  テスト ,  発生器