文献

J-GLOBAL ID：201002215316923940   整理番号：10A0133841

二重プリズム干渉計によるX線ホログラフィー顕微鏡観察

X-ray Holographic Microscopy by Double-Prism Interferometer

著者 (3件)： SUZUKI Yoshio (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Hyogo, JPN) ,  TAKEUCHI Akihisa (Japan Synchrotron Radiation Res. Inst., Hyogo, JPN) ,  HARADA Ken (Hitachi, Ltd., Saitama, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 49  号： 1,Issue 1  ページ： 016601.1-016601.5  発行年： 2010年01月25日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： X線ホログラフィー顕微鏡観察のための光学系を開発した。光学系は,二重プリズムX線干渉計及びFresnelゾーンプレート対物レンズをもつX線イメージング顕微鏡からなっていた。プリズムの一つを顕微鏡の対象面に置き,もう一つを対物レンズの後方焦点面に設置した。第一のプリズムは,参照波を対象波から分離し,第二のプリズムは,参照波を偏向し,対象の増倍像へそれを重ねた。そのとき,球状波面が像面に形成され,プリズムの境界におけるFresnel回折が測定ホログラムにおいて十分抑制された。それは,第一プリズムの焦点内像が像面に形成され,参照波と対象波が後方焦点面において互いに分離されるからである。SPring-8のビームライン20XUにおける実験結果を示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 顕微鏡 ,  X線 ,  *X線干渉計 ,  *プリズム ,  ゾーンプレート ,  Fresnelレンズ ,  *X線画像 ,  Fresnel回折 ,  放射光施設
準シソーラス用語： *ホログラフィー顕微鏡 ,  Fresnelゾーンプレート ,  SPring-8

分類 (2件)： その他のホログラフィー  (BD03073D) ,  光学的測定とその装置一般  (BD07010S)

引用文献 (10件)：

• T. Koyama, Y. Kagoshima, I. Wada, A. Saikubo, K. Shimose, K. Hayashi, Y. Tsusaka, and J. Matsui: Jpn. J. Appl. Phys.43(2004) L421.
• T. Koyama, T. Tsuji, K. Yoshida, H. Takano, Y. Tsusaka, and Y. Kagoshima: Jpn. J. Appl. Phys.45(2006) L1159.
• N. Watanabe, M. Hoshino, M. Sato, Y. Takeda, T. Namiki, S. Aoki, A. Takeuchi, and Y. Suzuki: Proc.8th Int. Conf. X-ray Microscopy (IPAP, Tokyo, 2006) IPAP Conf. Ser.7, p. 372.
• Y. Suzuki and A. Takeuchi: Rev. Sci. Instrum.76(2005)093702.
• Y. Suzuki and A. Takeuchi: AIP Conf. Proc.879(2007)1305.

タイトルに関連する用語 (4件)： プリズム ,  干渉計 ,  X線ホログラフィー ,  顕微鏡観察