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J-GLOBAL ID：201002215836954628   整理番号：10A0676746

BaTiO₃の誘電特性と疲労強度への微細構造による影響

Effect of microstructure on dielectric and fatigue strengths of BaTiO₃

著者 (5件)： LU Shih-chun (Dep. of Materials Sci. and Engineering, National Taiwan Univ., Taipei 106, Taiwan) ,  CHEN Yin-hua (Dep. of Materials Sci. and Engineering, National Taiwan Univ., Taipei 106, Taiwan) ,  TUAN Wei-hsing (Dep. of Materials Sci. and Engineering, National Taiwan Univ., Taipei 106, Taiwan) ,  SHIEH Jay (Dep. of Materials Sci. and Engineering, National Taiwan Univ., Taipei 106, Taiwan) ,  CHEN Chin-yi (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Feng-Chia Univ., Taichung 40724, Taiwan)
資料名： Journal of the European Ceramic Society  (Journal of the European Ceramic Society)
巻： 30  号： 12  ページ： 2569-2576  発行年： 2010年09月 
JST資料番号： E0801B  ISSN： 0955-2219  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,二モードの微細構造を持つバルクチタン酸バリウムセラミックス試験片を作製し,交流電場下での誘電特性と疲労強度を調べた。誘電特性と疲労強度はいずれも粗粒子量の増加により減少した。疲労強度のばらつきはワイブル統計で評価した。疲労強度データのばらつき範囲は粗粒子の粒度分布に強く相関した。この様な相関は微細構造内の固有欠陥の存在から得られた。直接的な微細構造証拠を示した。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *チタン酸バリウム ,  *誘電性 ,  *疲れ強さ ,  *微細構造 ,  固体粒子 ,  分散【variance】 ,  Weibull分布 ,  粒度分布 ,  欠陥 ,  残留分極 ,  抗電場 ,  *絶縁耐力
準シソーラス用語： ばらつき ,  *絶縁破壊強度 ,  *粗粒子 ,  疲労強度 ,  誘電特性

分類 (3件)： 誘電体一般  (BM05010F) ,  セラミック材料  (HC05040O) ,  セラミック・磁器の性質  (YC03030G)

タイトルに関連する用語 (4件)： BaTiO3 ,  誘電特性 ,  疲労強度 ,  微細構造