FELZENSZWALB Pedro F. について
Univ. Chicago, IL について
GIRSHICK Ross B. について
Univ. Chicago, IL について
MCALLESTER David について
Toyota Technological Inst. at Chicago, IL について
RAMANAN Deva について
Univ. California, CA について
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence について
コンピュータビジョン について
検出 について
位置決め について
画像分析 について
サポートベクトルマシン について
最適化問題 について
データマイニング について
機械学習 について
主成分分析 について
次元縮小 について
評価試験 について
精度 について
オブジェクト検出 について
パターン認識 について
図形・画像処理一般 について
人工知能 について
システム・制御理論一般 について
識別 について
訓練 について
モデル について
オブジェクト検出 について