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J-GLOBAL ID:201002220073796850   整理番号:10A0443859

種々の幅のMgB2薄膜の樹状なだれの微視的調査

Microscopic Study of Dendritic Avalanches in MgB2 Thin Films of Various Widths
著者 (6件):
資料名:
巻: 79  号:ページ: 044712.1-044712.4  発行年: 2010年04月15日 
JST資料番号: G0509A  ISSN: 0031-9015  CODEN: JUPSA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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樹状崩壊の特徴を理解するため,3mm[長さL]×w[幅](w=0.2から1.6mm)の矩形形状を取る8個の組のMgB2薄膜を調製した(この試料は,w<Lのようない,長手方向の長さまでとしてある)。温度4Kにおいて,35mTより低い印加磁場下で,疎分布したいくつかの第一樹状パターンの磁気-光学画像(MOIS)を撮像した。本測定の特徴は,下記の通りである。(1)枝の本数,及び,その面積は,幅wの増加に従って,増加すること,(2)試料の縁部における跳び前後の磁束密度(CFD)の変化は,幅wの増加につれて増加すること,(3)いくつかの第一形態の樹枝の印加磁束は,幅wの増加につれて減少すること,(4)幅wに関係なく,試料縁部における実際の初期浸透磁束密度は,約20mTであること,更に,(5)MOIから得た臨界電流密度は,全ての試料について,略同じであり,これは,Beanの臨界モデルが,極めて上手く機能することを示唆している。(翻訳著者抄録)
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