文献

J-GLOBAL ID：201002220211140111   整理番号：10A0754097

電力系統に適用するための多層被覆導体に基づくバイファイラ巻きパンケーキ制限モジュールの電気試験

Electrical Test of Bifilar-Wound Pancake Limiting Module Based on Multi-Stacked Coated Conductor for Application to a Power System

著者 (6件)： YANG Seong Eun (Yonsei Univ., Seoul, KOR) ,  PARK Dong Keun (Yonsei Univ., Seoul, KOR) ,  CHANG Ki Sung (Yonsei Univ., Seoul, KOR) ,  KIM Young Jae (Yonsei Univ., Seoul, KOR) ,  NA Jin Bae (Yonsei Univ., Seoul, KOR) ,  KO Tae Kuk (Yonsei Univ., Seoul, KOR)
資料名： IEEE Transactions on Applied Superconductivity  (IEEE Transactions on Applied Superconductivity)
巻： 20  号： 3  ページ： 1308-1311  発行年： 2010年06月 
JST資料番号： W0177A  ISSN： 1051-8223  CODEN： ITASE9  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (7件)： 電力系統 ,  多層 ,  被覆導体 ,  パンケーキ ,  制限 ,  モジュール ,  電気試験