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J-GLOBAL ID：201002220880394668   整理番号：10A1168729

スキャンテスト用の低キャプチャ電力テスト生成について

On low-capture-power test generation for scan testing

著者 (6件)： WEN Xq ,  YAMASHITA Y ,  KAJIHARA S ,  WANG Lt ,  SALUJA Kk ,  KINOSHITA K
資料名： 23RD IEEE VLSI TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS
ページ： 265-270  発行年： 2005年 
JST資料番号： I20050156  ISSN： 1093-0167  ISBN： 0-7695-2314-5  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： その他 (ZZZ)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (2件)： スキャンテスト ,  テスト生成