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J-GLOBAL ID：201002221456798216   整理番号：10A0435411

太陽電池のためのCuIn₃Te₅薄膜のミクロ構造と光学特性

Microstructural and optical properties of CuIn₃Te₅ thin films for solar cells

著者 (2件)： MISE Takahiro (Dep. of Electrical Engineering and Electronics, Aoyama Gakuin Univ., 5-10-1 Fuchinobe, Sagamihara, Kanagawa ...) ,  NAKADA Tokio (Dep. of Electrical Engineering and Electronics, Aoyama Gakuin Univ., 5-10-1 Fuchinobe, Sagamihara, Kanagawa ...)
資料名： Solar Energy Materials and Solar Cells  (Solar Energy Materials and Solar Cells)
巻： 94  号： 6  ページ： 1132-1136  発行年： 2010年06月 
JST資料番号： D0513C  ISSN： 0927-0248  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： CuIn₃Te₅薄膜が,分子ビームエピタクシ(MBE)システムを使用して,ソーダ石灰ガラス(SLG)基板に堆積された。ミクロ構造特性は走査電子顕微鏡(SEM),X線回折(XRD),およびラマン散乱によって調査された。膜物性の基板温度(T_sub)依存性は,100-400°Cの範囲で調査された。欠陥黄銅鉱構造を持つ大粒状CuIn₃Te₅薄膜は,200-400°Cで支配的に成長された。優先(112)配向は,200°Cの低い基質温度でさえ観測された。これらの膜の光学バンドギャップは,透過と反射測定値から1.01-1.05eVであると求められた。200°Cで成長したCuIn₃Te₅薄膜を使用して製作された最高の太陽電池は,V_oc=318mV, J_sc=29.0mA/cm²及びFF=0.504で,4.64%の収率を産み出した。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *エピタクシー ,  *太陽電池 ,  走査電子顕微鏡 ,  X線回折 ,  Raman散乱 ,  *薄膜成長 ,  バンドギャップ ,  *温度依存性 ,  微細構造 ,  エネルギー変換効率
準シソーラス用語： エピタクシー成長 ,  薄膜太陽電池 ,  *ミクロ構造

分類 (1件)： 薄膜成長技術・装置  (BK14020I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 太陽電池 ,  薄膜 ,  ミクロ構造 ,  光学特性