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J-GLOBAL ID:201002221784648817   整理番号:10A1539408

GaNナノワイヤ電界効果トランジスタ及びバンド-バンドトンネル電界効果トランジスタのモデリング及び性能

Modeling and performance analysis of GaN nanowire field-effect transistors and band-to-band tunneling field-effect transistors
著者 (2件):
資料名:
巻: 108  号: 10  ページ: 104503  発行年: 2010年11月15日 
JST資料番号: C0266A  ISSN: 0021-8979  CODEN: JAPIAU  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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深くスケールしたGaNナノワイヤ(NW)電界効果トランジスタ(FET)の実部及び虚部バンド構造を,八バンドk・pモデルで計算した。GaN NW FET及びNWバンド-バンドトンネルFET(TFET)の両方の輸送特性の分析を述べた。深スケールn型GaN NW FETは,量子容量限界の代わりに,古典的な容量限界(CCL)において動作した。これは,高電子有効質量及び高状態密度の結果であった。これらの素子のCCL動作が,素子性能にどのようにして影響を与えるかを議論した。GaN NW FETでは,0.2eVのソースFermi準位内で,電流密度は5から8.5A/mmまで変わった。GaN TFETに関して,オン電流,オフ電流,及び求められる電場に及ぼすNW直径の効果を分析した。~0.05A/mmの駆動電流を,GaN NW TFETに関して達成できることを示した。これらの素子は,高速及び高電力応用に対する可能性を示した。(翻訳著者抄録)
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分類 (3件):
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トランジスタ  ,  半導体薄膜  ,  半導体結晶の電子構造 
タイトルに関連する用語 (5件):
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