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J-GLOBAL ID：201002223122922989   整理番号：10A0779587

走査型顕微光散乱による微量ゲル状試料のナノ構造解析システムを開発~高粘度,複雑形状,低透明度の試料でも簡便に非破壊・非接触の定量測定が可能に~

資料名： ケミカルエンジニヤリング  (Chemical Engineering (Tokyo))
巻： 55  号： 8  ページ： 645-647  発行年： 2010年08月01日 
JST資料番号： F0134A  ISSN： 0387-1037  CODEN： CMNGA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 山形大学大学院理工学研究科の古川英光准教授は,ゲル内部の網目構造解析に特化した走査型顕微光散乱「SMILS」を利用した微量ゲル状試料の構造解析システムの開発に成功した。一般によく利用される含水率測定では得られないナノ構造の情報を,数分から30分程度の短時間分析で簡便に得られるようになる技術である。1マイクロリットル台の微量ゲル状試料をSMILSにより光学的に測定し適切な統計処理を施すことにより,試料内部のナノメートルサイズの網目構造を,非破壊,非接触で定量的に測定する。この構造解析システムでは,より高機能なゲルの性能の測定の際に使われる動的光散乱法による内部構造解析で測定が困難であった不均質な試料や透明度が低い試料,高粘度で複雑な形状をした試料でも測定できる。今後,山形大学では,本技術による実用型SMILSの製品化を最終目標として,1μLの微量ゲル状試料を研究開発や製造工程の現場で誰もが簡便に扱える実用型SMILSシステムのプロトタイプの開発を進めていく。

シソーラス用語： *微量成分 ,  *ゲル ,  *ナノ構造 ,  *構造解析 ,  開発 ,  *粘度 ,  *形態 ,  *透明度 ,  *非破壊測定 ,  *非接触測定 ,  光散乱 ,  ネットワーク構造 ,  含水量 ,  光学的測定 ,  商品化 ,  研究開発 ,  生産工程
準シソーラス用語： システム開発

分類 (2件)： 高分子固体の構造と形態学  (CG02022M) ,  応用物理化学的操作・装置  (XE03000E)

タイトルに関連する用語 (12件)： 走査型 ,  光散乱 ,  ゲル ,  試料 ,  ナノ構造 ,  解析システム ,  開発 ,  高粘度 ,  複雑形状 ,  透明度 ,  非接触 ,  定量