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J-GLOBAL ID：201002223254293662   整理番号：10A0510641

集束ビームの吸収ゆらぎによる島状構造薄膜のモルフォロジー変化の発現

Manifestation of Changes in the Morphology of Thin Island Films in Fluctuations of the Absorption of Focused Beams

著者 (2件)： VARTANYAN T. A. (St. Petersburg State Univ. Information Technol., Mechanics, and Optics, St. Petersburg, RUS) ,  PRZHIBEL’SKII S. G. (St. Petersburg State Univ. Information Technol., Mechanics, and Optics, St. Petersburg, RUS)
資料名： Optics and Spectroscopy  (Optics and Spectroscopy)
巻： 108  号： 1  ページ： 129-132  発行年： 2010年01月 
JST資料番号： H0143A  ISSN： 0030-400X  CODEN： OPSUA3  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： ロシア (RUS)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *薄膜 ,  *島状構造 ,  *モルフォロジー ,  *レーザ照射 ,  レーザビーム ,  ビーム集束 ,  光吸収 ,  ゆらぎ ,  表面改質 ,  光走査 ,  膜厚 ,  空間依存性 ,  スペクトル解析

分類 (2件)： 薄膜一般  (BK14010X) ,  レーザ照射・損傷  (BK16040S)

タイトルに関連する用語 (7件)： 集束 ,  ビーム ,  ゆらぎ ,  島状構造 ,  薄膜 ,  モルフォロジー ,  発現