抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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X線吸収微細構造(XAFS)測定は,現在,硬X線領域,および超軟X線領域のものが利用されているが,それらの中間のエネルギー領域である1000~3000eV程度の軟X線領城は利用可能なビームラインが少ない。しかし,この軟X線領域のXAFSには地球上の固体物質として存在比の高いAlやSiのK吸収端をはじめ,多くの物質に不純物として混入しているSやClのK吸収端,生体中に含まれるNa,Mg,Caなどの軽元素,また,触媒として用いられるRh,Pdのような遷移金属のL吸収端など物質科学の他,環境科学や生命科学など多くの分野における需要が期待される。多分野の試料を扱うため,軟X線領域のXAFSビームラインの絶対数が少ないこともあり,一つのビームラインで様々な試料に対応できることが望まれている。そこで,著者らは,1000~3000eV程度の軟X線領域のXAFSビームラインにおいて,多種多様な形態の試料に対応するためのXAFS測定システムを開発した。本論文ではこれらの測定系の詳細とその有効性を報告する。
