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J-GLOBAL ID：201002227813198468   整理番号：10A0252716

多数フィラメントBi₂Sr₂CaCu₂O_x円筒形ワイヤにおけるフィラメント・フィラメント架橋およびその高臨界電流密度発生への影響

Filament to filament bridging and its influence on developing high critical current density in multifilamentary Bi₂Sr₂CaCu₂O_x round wires

著者 (7件)： SHEN T (Florida State Univ., FL, USA) ,  JIANG J (Florida State Univ., FL, USA) ,  KAMETANI F (Florida State Univ., FL, USA) ,  TROCIEWITZ U P (Florida State Univ., FL, USA) ,  LARBALESTIER D C (Florida State Univ., FL, USA) ,  SCHWARTZ J (Florida State Univ., FL, USA) ,  HELLSTROM E E (Florida State Univ., FL, USA)
資料名： Superconductor Science and Technology  (Superconductor Science and Technology)
巻： 23  号： 2  ページ： 025009,1-10  発行年： 2010年02月 
JST資料番号： T0607A  ISSN： 0953-2048  CODEN： SUSTEF  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： パウダーインチューブ法を用いてBi2212前駆体を銀チューブに入れて引張フィラメントにして85本を束ね,その束を7本集め外側をAg-Mgシースにして1本の円筒形ワイヤにした。これを894°Cで0.2h反応させ,徐冷して幾つかの所定の温度から2.5または20°C/hで冷却した。徐冷速度が速いと臨界電流密度が減少することが分かった。試料の断面をSEMで観察すると,Bi2212の他,細孔,Ag,アルカリ土類銅酸化物(Sr,Ca)₁₄Cu₂₄O_x(AECと略記),銅フリー相(Bi)₉(Sr,Ca)₁₆O_x(CFと略記)が観察された。フィラメントの架橋は溶融状態の時生じるものと,徐冷時にBi2212がフィラメントの外側に成長して,別のフィラメントから成長したBi2212と結びつくものがあることが分かった。前者は臨界電流密度を増加させ,後者は弱いリンクになると思われる。

シソーラス用語： カルシウム化合物 ,  ストロンチウム化合物 ,  ビスマス化合物 ,  酸化物 ,  銅化合物 ,  *高温超伝導体 ,  *臨界電流密度 ,  フィラメント ,  徐冷 ,  走査電子顕微鏡 ,  電子顕微鏡観察 ,  線引 ,  *超伝導線
準シソーラス用語： *Bi2212 ,  *パウダーインチューブ法 ,  ブリッジング

分類 (2件)： 超伝導材料  (BM04041W) ,  酸化物系超伝導体の物性  (BM04023I)

タイトルに関連する用語 (4件)： フィラメント ,  ワイヤ ,  架橋 ,  臨界電流密度