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J-GLOBAL ID：201002229740738542   整理番号：10A0680853

表面電荷密度の測定

SURFACE CHARGE DENSITY MEASUREMENTS

著者 (2件)： NORAS Maciej A. (Univ. North Carolina at Charlotte, North Carolina) ,  PANDEY Apra (Trek, Inc., New York)
資料名： IEEE Industry Applications Magazine  (IEEE Industry Applications Magazine)
巻： 16  号： 4  ページ： 41-47  発行年： 2010年07月 
JST資料番号： W0714A  ISSN： 1077-2618  CODEN： IIAMEG  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 誘電物質の表面電荷分布測定のための非接触法であるケルビンプローブによる機器の利用と限界を示す。非接触メーターの限界を知り理解することは重要であり,メーターと周囲を含む測定物との容量結合をいつも考慮する必要がある。加えて,テスト表面が誘電物質であれば,メーターが空間分布電場あるいは電気ポテンシャルの平均値を記録することを理解することが重要である。このことは,非均一表面電荷分布を持つテスト物質については特に重要である。本稿では,3つの一般的な機器:静電気測定器,dc安定静電電圧計(dc-ESVM),ac帰還電圧計(ac-ESVM)を解析し,テスト装置を考察する。テスト装置の形状に依存する表面電荷分布を測定する機器を適切に選択するための一般的な指針を与える。

シソーラス用語： *表面電荷 ,  *電荷分布 ,  密度 ,  電気測定 ,  *誘電体
準シソーラス用語： *電荷測定 ,  *電荷密度

分類 (1件)： 電流,電圧,電荷の計測法・機器  (AD07020C)

タイトルに関連する用語 (1件)： 表面電荷密度