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J-GLOBAL ID：201002230630928697   整理番号：10A0269121

非線形SパラメータとSDRは検査・測定装置に衝撃を与える

Nonlinear S-Parameters And SDR Impact Test And Measurement Equipment

著者 (1件)： FRIEDRICH Nancy
資料名： Microwaves & RF  (Microwaves & RF)
巻： 49  号： 1  ページ： 33-34,36,38-39  発行年： 2010年01月 
JST資料番号： C0037B  ISSN： 0745-2993  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： マイクロ波用の計測検査機器が非線形SパラメータとSDR(ソフトウェア設計無線)により変貌している現況について解説した。急速な無線通信基準の変動や電力増幅器(PA)のシステム内組込に対応するため,一段と非線形デバイスの特性評価作業が増加している。大信号用デバイスの非線形特性を示すため,従来の線形デバイス用の周波数領域機器は新技術と特有の計測パラメータを採用して対処したが,最近,波形エンジニアリング技術を用いて時間領域でSパラメータ概念を実施する製造業者が出現した。さらに,RF波形,電力スペクトル,Sパラメータ,DC特性等を1台で測定するシステムも現れた。短い開発期間で多数の機能性を提供するため,製造業者はますますソフトウェアプログラマブル手法に向かっている。ソフトウェア定義した機器の利用拡大は現在の機器の境界をぼやかす。

シソーラス用語： *マイクロ波測定 ,  試験装置 ,  S行列 ,  *無線伝送 ,  *ソフトウェア設計 ,  非線形性 ,  電力増幅器 ,  複合技術
準シソーラス用語： SDR ,  Sパラメータ ,  複合化

分類 (3件)： 波形,周波数,波長,位相の計測法・機器  (AD07040Y) ,  通信測定一般  (ND03000R) ,  計算機システム開発  (JD02010R)

タイトルに関連する用語 (6件)： 非線形 ,  Sパラメータ ,  SDR ,  検査 ,  測定装置 ,  衝撃