抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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AlN基板上にAlGaNチャネルHEMTエピを成長し,サファイア基板上と比較した。AlGaNチャネル層の(10-12)面のX線ロッキングカーブ(XRC)半値幅の低減に伴い,2次元電子ガスのシート抵抗の大幅な低減が確認された。AlGaNチャネルHEMTでは,2次元電子ガスのシート抵抗低減には,AlGaNチャネル層の結晶品質の向上が重要であることを明らかにした。また,AlN基板を用いることで,AlGaNチャネル層の結晶品質の向上及び2次元電子ガスのシート抵抗の低減を確認し,AlGaNチャネルHEMTにおけるAlN基板の優位性を確認することができた。(著者抄録)