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J-GLOBAL ID：201002231574413049   整理番号：10A1178759

低温における誘電体と誘電性材料の高スループット特性解析のための走査型マイクロ波顕微鏡の開発

The development of scanning microwave microscope for high-throughput characterization of dielectric and conducting materials at low temperatures

著者 (14件)： OKAZAKI S ,  OKAZAKI N ,  SUGAYA H ,  ZHAO X ,  HASEGAWA K ,  AHMET P ,  CHIKYOW T ,  NISHIMURA J ,  FUKUMURA T ,  KAWASAKI M ,  MURAKAMI M ,  MASTUMOTO Y ,  KOINUMA H ,  HASEGAWA T
資料名： COMBINATORIAL AND ARTIFICIAL INTELLIGENCE METHODS IN MATERIALS SCIENCE II
ページ： 249-254  発行年： 2004年 
JST資料番号： I20040295  ISSN： 0272-9172  ISBN： 1-55899-742-3  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： その他 (ZZZ)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (7件)： 低温 ,  誘電体 ,  誘電性材料 ,  高スループット ,  特性解析 ,  走査型マイクロ波顕微鏡 ,  開発