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J-GLOBAL ID：201002231904008618   整理番号：10A0847734

粗い表面上のX線及び中性子ビーム散乱への厳密な方法の適用

Application of the rigorous method to x-ray and neutron beam scattering on rough surfaces

著者 (1件)： GORAY Leonid I. (Saint Petersburg Academic Univ., Khlopina 8/3, St. Petersburg 194021, Russian Federation; Inst. for Analytical ...)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 108  号： 3  ページ： 033516  発行年： 2010年08月01日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 有限の導電性粗面からのX線及び中性子散乱の包括的数値解析を行った。波長に対する特性次元の比が大きい場合の厳密な定式化において,境界積分方程式の枠組みで解析した。得られた単一積分方程式は単層及び二層ポテンシャルの境界積分を含む。吸収格子と粗面鏡に適用できるエネルギー保存則のより一般的取扱を検討した。前進電磁ソルバを用いて粗い表面の散乱強度を計算するために,モンテカルロシミュレーションを用いて,実現集団(ensemble of realization)全体にわたる個々の表面に起因した確率的回折格子効率を平均した。波長対周期の比が小さいときの理論の数値解析に適する幾つかの規則を示した。臨界角に近いかそれより大きな角度ですれすれ入射が生じる波長で,粗さパラメータの異なるAu鏡の鏡面反射に対し,厳密な手法と近似の差を明確に認めた。この差は実験データと計算を比較してrms粗さと相関長を求める場合,それらの間違った推定量を与える可能性がある。さらに,厳密な手法はあらゆる既知の粗さ統計量を考慮でき,散漫散乱の厳密な計算を可能にする。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： 表面 ,  粗面 ,  X線散乱 ,  *中性子散乱 ,  *厳密解 ,  境界積分方程式 ,  エネルギー保存則 ,  電磁場解析 ,  モンテカルロ法 ,  計算機シミュレーション ,  回折格子 ,  すれすれ入射 ,  表面粗さ ,  *X線散漫散乱
準シソーラス用語： 粗い表面

分類 (2件)： 電磁気学一般  (BD01020N) ,  核子による反応・散乱  (BG04040N)

タイトルに関連する用語 (3件)： X線 ,  中性子ビーム ,  散乱