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J-GLOBAL ID:201002232025348673   整理番号:10A0494565

1MA ZピンチのUVレーザプロービング診断の開発

Development of UV Laser Probing Diagnostics for 1-MA Z-Pinches
著者 (7件):
資料名:
巻: 38  号: 4,Pt.1  ページ: 574-580  発行年: 2010年04月 
JST資料番号: D0036B  ISSN: 0093-3813  CODEN: ITPSBD  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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放電電流1MAで生成したZピンチプラズマを調べるため,波長266nmのレーザを用いた診断装置を開発した。通常用いられる波長532nmに比べ,266nmではプラズマ中のレーザビームの吸収と屈折が大幅に小さい。この特徴を活かしてZピンチのアブレーション,爆縮,よどみ点条件におけるプラズマ特性を詳細に観測できる。2波長シャドウグラフィ観測によれば,ワイヤアブレーションとワイヤアレイ中の爆縮バブルの構造が明らかとなる。コンパクトな円筒状,星状あるいは平面状ワイヤアレイ配位におけるプラズマ分布と挙動は波長266nmによる観測で明らかにできる。この波長の干渉計測によれば,爆縮のよどみ段階では電子密は5×1019cm-3以上に達している。さらなる診断技術の開発についても述べる。
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分類 (2件):
分類
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プラズマ装置  ,  プラズマ診断 
タイトルに関連する用語 (4件):
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