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J-GLOBAL ID：201002232329264379   整理番号：10A0254074

X線光電子分光法によるZnOナノロッド配列での表面再結合中心の起源

Origin of the surface recombination centers in ZnO nanorods arrays by X-ray photoelectron spectroscopy

著者 (7件)： YANG L.l. (Dep. of Sci. and Technol. (ITN), Linkoeping Univ., SE-60174 Norrkoeping, SWE) ,  YANG L.l. (Inst. of Condensed State Physics, Jilin Normal Univ., Siping 136000, CHN) ,  ZHAO Q.x. (Dep. of Sci. and Technol. (ITN), Linkoeping Univ., SE-60174 Norrkoeping, SWE) ,  WILLANDER M. (Dep. of Sci. and Technol. (ITN), Linkoeping Univ., SE-60174 Norrkoeping, SWE) ,  LIU X.j. (Dep. of Physics, Chemistry and Biology, Linkoeping Univ., SE-581 83 Linkoeping, SWE) ,  FAHLMAN M. (Dep. of Physics, Chemistry and Biology, Linkoeping Univ., SE-581 83 Linkoeping, SWE) ,  YANG J.h. (Inst. of Condensed State Physics, Jilin Normal Univ., Siping 136000, CHN)
資料名： Applied Surface Science  (Applied Surface Science)
巻： 256  号： 11  ページ： 3592-3597  発行年： 2010年03月15日 
JST資料番号： B0707B  ISSN： 0169-4332  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 2段階化学槽堆積法によって成長した成長直後及び焼きなまししたZnOナノロッド配列(ZNAs)の表面組成を,X線光電子分光法(XPS)によって調べた。XPSは,XPSスペクトルで初めて観測された(10-10)表面上のH結合と同様に,ZNAsの表面上にOH結合と特定の化学吸着酸素の存在を確認した。実験結果は,OH結合とH結合が表面再結合を促進する支配的な役割を演じ,また,特定の化学吸着酸素は,表面再結合に影響しそうであった。焼きなましは,OH結合とH結合を主として取り除き,表面での他の化学吸着した酸素の組成を高温で成長したZNAsの組成に,より密接に類似しているように変換し,それらの全てが,時間分解光ルミネセンス測定に従うと,表面再結合を抑制した。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： X線光電子スペクトル ,  *酸化亜鉛 ,  *ナノロッド ,  *配列 ,  組成 ,  半導体薄膜 ,  光ルミネセンス ,  計測 ,  基板 ,  ケイ素 ,  *析出 ,  電子顕微鏡観察 ,  *再結合中心
準シソーラス用語： *化学浴堆積 ,  時間分解法 ,  表面組成

分類 (1件)： 酸化物薄膜  (BK14050P)

タイトルに関連する用語 (4件)： X線光電子分光法 ,  ZnOナノロッド ,  表面再結合 ,  起源