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J-GLOBAL ID:201002232575345736   整理番号:10A0309339

電気化学的環境下での立方体Ptナノ粒子の原子間力顕微鏡観察

Atomic force microscopy of cubic Pt nanoparticles in electrochemical environments
著者 (6件):
資料名:
巻: 12  号:ページ: 544-547  発行年: 2010年04月 
JST資料番号: W1133A  ISSN: 1388-2481  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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立方体Ptナノ粒子の実像を,0.1M NaClO4溶液中で種々の電圧下で原子間力顕微鏡により研究した。10nm高さの立方体Ptナノ粒子を,0.10Vから1.10V(Ag/AgCl)まで明瞭に画像化した。ナノ粒子の高さは酸素放出のほぼ開始電圧の周辺(1.20V/(Ag/AgCl))では1.2±0.7nm(10.4±6.8%)増加した。高さの増加はナノ粒子の内層における酸化種の生成に帰因していた。1.40V(Ag/AgCl)以上で,ナノ粒子の溶解は縁部ではなく,上部テラスから開始した。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.
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分類 (4件):
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顕微鏡法  ,  金属の表面構造  ,  燃料電池  ,  貴金属触媒 
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