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J-GLOBAL ID：201002232591010639   整理番号：10A0998023

フルスキャン回路の診断テスト集合に対する静的テスト圧縮

Static test compaction for diagnostic test sets of full-scan circuits

著者 (2件)： POMERANZ I. (Purdue Univ., IN, USA) ,  REDDY S.M. (Univ. Iowa, IA, USA)
資料名： IET Computers & Digital Techniques  (IET Computers & Digital Techniques)
巻： 4  号： 5  ページ： 365-373  発行年： 2010年09月 
JST資料番号： H0155D  ISSN： 1751-8601  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： フルスキャン回路の故障検出テスト集合に対する静的圧縮手順は,テスト生成プロセスが生成するテストを操作して,故障カバレージは低減することなくテスト数を低減する。本論文は,以下2操作を特徴とする静的テスト圧縮手順を述べた。1)テスト集合の診断故障シミュレーションプロセスを異なる順序で実行し,不必要なテストを識別する:不必要なテストは,テスト集合により識別される故障対数を減らさずに除去できる,2)テスト集合を逆順またはランダム順に並べ替え,反復並べ替えプロセスを適用して,不必要と識別されるテスト数を増加させる。ISCAS-89ベンチマーク回路を利用した実験で,診断テスト集合の圧縮能力と,反復並替え手順の有効性を実証した。

シソーラス用語： *回路試験 ,  故障診断 ,  データ ,  *データ圧縮 ,  被覆率 ,  計算機シミュレーション ,  順序 ,  回路 ,  実験 ,  CAD【計算機】
準シソーラス用語： *スキャンテスト ,  テストデータ ,  故障カバレッジ ,  故障シミュレーション ,  順序づけ ,  ベンチマーク回路 ,  評価実験

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  CAD,CAM  (JE10000A)

タイトルに関連する用語 (4件)： スキャン ,  診断テスト ,  集合 ,  テスト