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J-GLOBAL ID：201002233629956040   整理番号：10A1421603

深い表面亀裂のサイジングに対して適切なプローブ距離選択のDCポテンシャルドロップ手法

DC potential drop technique selecting probes distances properly for sizing deep surface cracks

著者 (4件)： TAKEO F ,  SAKA M ,  HAMADA S ,  HAYAKAWA M
資料名： PROCEEDINGS OF THE ASME NONDESTRUCTIVE EVALUATION ENGINEERING DIVISION
ページ： 47-52  発行年： 2005年 
JST資料番号： I20050913  ISBN： 0-7918-4226-6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： その他 (ZZZ)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (7件)： 表面亀裂 ,  サイジング ,  プローブ ,  DC ,  ポテンシャル ,  ドロップ ,  手法