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J-GLOBAL ID：201002233808392795   整理番号：10A0639123

L形状の横傾斜多層鏡を通したX線追跡 シンクロトロン応用

Tracing X-rays through an L-shaped laterally graded multilayer mirror: a synchrotron application

著者 (5件)： HONNICKE Marcelo Goncalves (Brookhaven National Lab., NY, USA) ,  HUANG Xianrong (Brookhaven National Lab., NY, USA) ,  KEISTER Jeffrey W. (Brookhaven National Lab., NY, USA) ,  KODITUWAKKU Chaminda Nalaka (Brookhaven National Lab., NY, USA) ,  CAI Yong Q. (Brookhaven National Lab., NY, USA)
資料名： Journal of Synchrotron Radiation  (Journal of Synchrotron Radiation)
巻： 17  号： 3  ページ： 352-359  発行年： 2010年05月 
JST資料番号： W0763A  ISSN： 0909-0495  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 反射鏡は,平行と集光光学系としてシンクロトロンX線ビームラインにおいて広く使用されている。ここでは,L形状の横傾斜多層鏡を通してX線を追跡するための理論モデルを示した。モデルには,各種タイプの表面,多層タイプ/厚み,他の数個のパラメータ(粗さ,傾斜誤差,格子パラメータのランダム変動,コーナー効果など)を含めた。コリメータ(放物図),集光光学(楕円図),集光/コリメータ光学(楕円と方物の複合図)の三タイプのL形状鏡を追跡した。結果は,理論モデルが予想スポットサイズと発散を確認できることを示した。多項式曲率の非球面のような難しい面に基づく拡張オプションは実施中である。

シソーラス用語： 横方向 ,  傾斜 ,  多層 ,  *X線 ,  *光線追跡 ,  シンクロトロン放射 ,  *反射鏡 ,  集光 ,  ビームライン ,  表面 ,  厚み ,  表面粗さ ,  誤差 ,  格子定数 ,  変動 ,  コリメータ ,  楕円面鏡 ,  放物面鏡 ,  発散 ,  多項式 ,  曲率 ,  非球面鏡
準シソーラス用語： スポットサイズ ,  理論モデル

分類 (2件)： X線技術  (BA02060D) ,  その他の光学機器  (QF05060C)

タイトルに関連する用語 (6件)： L形状 ,  多層 ,  X線 ,  追跡 ,  シンクロトロン ,  応用