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J-GLOBAL ID：201002234138315863   整理番号：10A0122309

優れた画像処理に触れる-ViEW2009より-「1クラス特徴選択」を用いた外観検査方式

著者 (4件)： 藤森友貴 (キヤノン) ,  御手洗裕輔 (キヤノン) ,  瀧本将史 (キヤノン) ,  真継優和 (キヤノン)
資料名： 映像情報Industrial  (映像情報インダストリアル)
巻： 42  号： 2  ページ： 89-96  発行年： 2010年02月01日 
JST資料番号： Z0577B  ISSN： 1346-1362  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 対象画像から統計的特徴量を抽出し,正常のみのパターンから行う「1クラス特徴選択」の手法を用いて識別に有効な特徴量を選択する外観検査の手法を示した。実際に生産現場で用いられている画像データによる良品のみを用いる異常検出手法の有効性を検証した。その結果,欠陥(不良品)モデルに基づいて異常判定を行う従来の手法と比較して,本手法の優位性を示すことができた。

シソーラス用語： *画像処理 ,  *外観検査 ,  *特徴選択 ,  特徴抽出 ,  ウェーブレット変換 ,  欠陥検査

分類 (3件)： 品質検査  (KB04020L) ,  パターン認識  (JE07000S) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 画像処理 ,  クラス ,  特徴選択 ,  外観検査