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J-GLOBAL ID：201002234692073936   整理番号：10A1125024

プラズマ位置制御のためのH-モードレジームにおけるリアルタイム反射率測定の検証

Real-time reflectometry measurement validation in H-mode regimes for plasma position control

著者 (4件)： SANTOS J. (Associacao EURATOM/IST, Instituto de Plasmas e Fusao Nuclear-Laboratorio Associado, Instituto Superior Tecnico ...) ,  GUIMARAIS L. (Associacao EURATOM/IST, Instituto de Plasmas e Fusao Nuclear-Laboratorio Associado, Instituto Superior Tecnico ...) ,  MANSO M. (Associacao EURATOM/IST, Instituto de Plasmas e Fusao Nuclear-Laboratorio Associado, Instituto Superior Tecnico ...) ,  ASDEX UPGRADE TEAM (Associacao EURATOM/IST, Instituto de Plasmas e Fusao Nuclear-Laboratorio Associado, Instituto Superior Tecnico ...)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 81  号： 10  ページ： 10D926  発行年： 2010年10月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： H-モードレジームでは反射測定電子密度プロファイルおよびセパラトリクスにおける密度推定を一緒に用いて ITERにおけるプラズマ位置制御に要求される精度内でセパラトリクスを追尾する。著者らは,位置推定方法から,端部局在モード(ELM)の崩壊および回復位相の間に行われた測定を自動的に取り除く方法について報告する。排除メカニズムに基づいて,また,この方法位置負帰還制御装置に戻せる推定信頼値をつくる。準備段階の結果から,この方法がリアルタイムの実験セパラトリクス追尾能力を改良し,制御負帰還動作中に ELM事象信号の外部オンライン源を不要にする可能性をもつことを示す。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *実時間処理 ,  *計測 ,  *反射率 ,  電子密度 ,  密度分布 ,  *位置制御 ,  *プラズマ ,  *フィードバック制御

分類 (1件)： プラズマ装置  (BJ02082I)

タイトルに関連する用語 (5件)： プラズマ ,  位置制御 ,  リアルタイム ,  反射率測定 ,  検証