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J-GLOBAL ID:201002234845101276   整理番号:10A1126917

熱工学の実在表面の熱ふく射性質の全ぼうを測定するスペクトル装置の開発

A New Spectrophotometer System for Measuring Thermal Radiation Characteristics of Real Surfaces of Thermal Engineering Entirely
著者 (2件):
資料名:
巻: 76  号: 770  ページ: 1571-1578  発行年: 2010年10月25日 
JST資料番号: F0036B  ISSN: 0387-5016  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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本研究では,熱工学の実在表面の熱ふく射性質の全ぼうを測定できるスペクトル測定装置を開発する。その装置は,波長0.30~10.9μmの近紫外~赤外域で実在表面の垂直入射半球反射率,垂直入射鏡面反射率,垂直入射拡散反射率,垂直入射吸収率,垂直放射率のスペクトルの推移を6sごとに同時にくり返し測定する。その装置を用いて,ニッケルの清浄な光学鏡面が高温大気中で酸化されてあらい実在表面に推移する過程における反射率・吸収率・放射率のスペクトルの推移を測定し,その推移のメカニズム機構を検討し,開発したスペクトル装置の熱工学のための有効性を例証する。(著者抄録)
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分類 (1件):
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放射伝達,放射変調 
引用文献 (10件):
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