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J-GLOBAL ID:201002235292757816   整理番号:10A0508360

エアロゾル粒子試料の直接分析のための全反射X線蛍光(TXRF)

Total reflection X-ray fluorescence (TXRF) for direct analysis of aerosol particle samples
著者 (10件):
資料名:
巻: 31  号:ページ: 467-477  発行年: 2010年04月14日 
JST資料番号: C0125B  ISSN: 0959-3330  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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この論文では浮遊粒子状物質フィルター上の試料の化学組成の新規な決定法を提案した。使用した方法は全反射X線蛍光(TXRF)分光であり,これは試料の事前調整を必要としないため,前処理による実験誤差の介入がなく,したがって,後続する検討のための試料の保存に好適である。試料は2006年6月30日~7月14日の間,Bresciaの大学キャンパスで採取した。データはピーク高さあるいは面積について比較され,各元素比を正確に求めることが可能であった。いくつかの元素間に相関が見られ,同一の発生源に由来することが示唆された。これはこの件についての既存の研究と一致した。現在のところこの分析法は相対的な結果のみであるが,定量分析が可能になるように方法に改良を加えている。
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分類 (3件):
分類
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気圏環境汚染  ,  粒状物調査測定  ,  X線技術 
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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