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J-GLOBAL ID:201002235527049938   整理番号:10A0459445

CeOx-SiO2-TiO2薄膜のゾル-ゲル合成と特性評価

Sol-Gel Synthesis and Characterization of CeOx-SiO2-TiO2 Thin Films
著者 (2件):
資料名:
巻: 93  号:ページ: 1056-1061  発行年: 2010年04月 
JST資料番号: C0253A  ISSN: 0002-7820  CODEN: JACTAW  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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CeOx-SiO2-TiO2(CST)膜をゾル-ゲルディップコーティング法でガラス基板に作製し,光学特性と親水性を調べた。XPSからTiはTi4+で存在し,Ce3+とCe4+が共存した。か焼温度が500°Cと低いので基板からのSiの拡散はなく,SiはCST膜表面(深さ0.5~2.5nm)に存在した。AFMからCST膜は表面粗さが1.95nmで,TiO2膜に比べて平坦であった。UV-可視分光からCe/Ti=3~8%はレッドシフトを示した。光学的バンドギャップはSi/Ti=10%,Ce/Ti=5%で2.87eV(Ti:3.23eV)であった。30分のUV照射後の水に対する接触角はSi/Ti=20%,Ce/Ti=5%で3°で,超親水性を示した。
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分類 (1件):
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酸化物薄膜 
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