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J-GLOBAL ID:201002236157928178   整理番号:10A1153224

インプラント周囲の新生骨石灰化と関連する骨質変化-X線光電子分光法(XPS),偏光顕微鏡法(PM)およびフーリエ変換赤外イメージング法を用いて-

Changes in Bone Quality Associated with the Mineralization of New Bone Formed Around Implants - Using XPS, Polarized Microscopy, and FTIR imaging -
著者 (9件):
資料名:
巻: 19  号:ページ: 101-110 (J-STAGE)  発行年: 2010年 
JST資料番号: L2839A  ISSN: 1341-7649  CODEN: JHTBFF  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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分類 (1件):
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歯の基礎医学 
引用文献 (39件):
  • VAN DER BILT, A. Bite force and electromyography during maximum unilateral and bilateral clenching. Eur J Oral Sci. 2008, 116, 217-222
  • ALBREKTSSON, T. Direct bone anchorage of dental implants. J Prosthet Dent. 1983, 50, 255-261
  • NAKANO, T. Unique alignment and texture of biological apatite crystallites in typical calcified tissues analyzed by microbeam X-ray diffractometer system. Bone. 2002, 31, 479-487
  • BOSKEY, A. FT-IR imaging of native and tissue-engineered bone and cartilage. Biomaterials. 2007, 28, 2465-2478
  • SUWA, T. Variation in composition of bone surrounding implants. Key Engineering Materials 309-311. 2006, 19-22
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