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J-GLOBAL ID：201002236754519866   整理番号：10A0154554

基板表面粗さのマイクロストリップ伝送線における損失への従来の分析と長さスケールのフラクタル解析を用いる影響

The influence of substrate surface roughness on microstrip transmission line loss using conventional analyses and length-scale fractal analysis

著者 (4件)： VINCENT Tracey (Technion-Israel Inst. Technol., Haifa, ISR) ,  VINCENT Tracey (Worcester Polytechnic Inst., MA, USA) ,  POWERS Brendan (Worcester Polytechnic Inst., MA, USA) ,  BAR-ON Isa (Worcester Polytechnic Inst., MA, USA)
資料名： Surface and Interface Analysis  (Surface and Interface Analysis)
巻： 42  号： 1  ページ： 21-35  発行年： 2010年01月 
JST資料番号： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 伝送損失の回避は,電気通信分野での重要な設計ドライバである。表面の粗さの伝送損失への影響を平均粗さと表皮深さの関係から見積もるHammerstadの経験式が広く用いられている。広い範囲の表面トポロジーの伝送損失のHammerstad式による定量は誤差が大きい欠点がある。本研究では,伝送損失,特に,導体損のマイクロストリップの種々の表面粗さを持つセラミック基板を用いる実験に基づく研究を明らかにする。電導体のトポグラフィー要素,電導体のエッジ角度,電導体-セラミック界面の伝送損失の影響を調べた。伝導体試料として,窒化アルミニウム(AlN)を通常の薄膜法によって調製した。電導体エッジは,干渉顕微鏡を用いて測定した。伝送損失と電導体のエッジ角度の間に相関がある一方,伝送損失と表面の粗さの間には逆相関があることが分かった。

シソーラス用語： *マイクロストリップ線路 ,  *伝送損失 ,  *解析 ,  *表面粗さ ,  位相幾何学 ,  トポグラフィー【形態】 ,  基板 ,  導体 ,  窒化アルミニウム ,  薄膜成長 ,  光学顕微鏡法
準シソーラス用語： *フラクタル解析 ,  セラミック基板 ,  干渉顕微鏡法

分類 (2件)： 有線通信方式・機器  (ND09000H) ,  固体の表面構造一般  (BK15010E)

タイトルに関連する用語 (7件)： 表面粗さ ,  マイクロストリップ ,  伝送線 ,  損失 ,  分析 ,  長さスケール ,  フラクタル解析