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J-GLOBAL ID：201002236892438168   整理番号：10A1049692

単一光子イオン化飛行時間型質量分析計を用いた揮発性有機化合物の痕跡分析のための膜導入システム

Membrane introduction system for trace analysis of volatile organic compounds using a single photon ionization time-of-flight mass spectrometer

著者 (5件)： YAMAMOTO Yukio (Environmental Sci. Center, The Univ. of Tokyo, 7-3-1 Hongo, Bunkyo-ku, Tokyo 113-0033, JPN) ,  KANNO Nozomu (Environmental Sci. Center, The Univ. of Tokyo, 7-3-1 Hongo, Bunkyo-ku, Tokyo 113-0033, JPN) ,  TONOKURA Kenichi (Environmental Sci. Center, The Univ. of Tokyo, 7-3-1 Hongo, Bunkyo-ku, Tokyo 113-0033, JPN) ,  YABUSHITA Akihiro (Dep. of Molecular Engineering, Kyoto Univ., Kyoto 615-8510, JPN) ,  KAWASAKI Masahiro (Dep. of Molecular Engineering, Kyoto Univ., Kyoto 615-8510, JPN)
資料名： International Journal of Mass Spectrometry  (International Journal of Mass Spectrometry)
巻： 296  号： 1-3  ページ： 25-29  発行年： 2010年09月 
JST資料番号： D0625A  ISSN： 1387-3806  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 真空紫外単一光子イオン化飛行時間型質量分析計(VUV-SPI-TOFMS)と組み合わせたシリコーン膜試料導入システムを開発し,環境大気中の痕跡量の揮発性有機化合物の検出を行った。まく導入システムを用いたベンゼン,トルエンおよびクロロベンゼンの,直接導入システムに対する最大濃縮因子は,それぞれ15.3,11.0および12.1であることがわかった。シリコーン膜のトルエンの気体透過度は製造者が報告した値と一致した。本研究で用いたシリコーン膜の気体透過度を,濃縮因子を用いた理論計算により,ベンゼンとクロロベンゼンに対して算出した。ベンゼン,トルエンおよびクロロベンゼンの濃縮因子は,34ppmv以下では混合比に依存しなかった。膜導入システムによるベンゼンとクロロベンゼンの検出限界は,直接導入と比較して1桁の大きさで向上した。膜導入VUV-SPI-TOFMSにおいて,ほぼppbv以下のレベルのベンゼンおよびクロロベンゼンの検出を達成した。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *試料導入 ,  光子 ,  *質量分析 ,  飛行時間法 ,  *揮発性有機化合物 ,  痕跡分析 ,  真空紫外線 ,  *大気質試験 ,  透気性 ,  ポリシロキサン ,  高分子膜 ,  *膜透過 ,  アルキルベンゼン ,  芳香族炭化水素 ,  芳香族塩素化合物
準シソーラス用語： 単一光子 ,  *光イオン化質量分析

分類 (2件)： 分析機器  (CC02020S) ,  有機化合物の物理分析  (CC03034A)

物質索引 (3件)： トルエン ,  ベンゼン ,  クロロベンゼン

タイトルに関連する用語 (5件)： 単一光子 ,  イオン化 ,  飛行時間型質量分析計 ,  揮発性有機化合物 ,  痕跡分析