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J-GLOBAL ID：201002238201834499   整理番号：10A1542240

極性界面における原子スケールの補償現象

Atomic-Scale Compensation Phenomena at Polar Interfaces

著者 (8件)： CHISHOLM Matthew F. (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  LUO Weidong (Vanderbilt Univ., Tennessee, USA) ,  LUO Weidong (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  OXLEY Mark P. (Vanderbilt Univ., Tennessee, USA) ,  OXLEY Mark P. (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  PANTELIDES Sokrates T. (Vanderbilt Univ., Tennessee, USA) ,  PANTELIDES Sokrates T. (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  LEE Ho Nyung (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 105  号： 19  ページ： 197602.1-197602.4  発行年： 2010年11月05日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *チタン酸ストロンチウム ,  *強誘電体 ,  基板 ,  極性 ,  *ジルコニウム酸チタン酸鉛 ,  誘電体薄膜 ,  *ルテニウム化合物 ,  *酸素酸塩 ,  ストロンチウム化合物 ,  補償 ,  電場 ,  遮蔽 ,  *界面 ,  電荷 ,  収差補正 ,  電子顕微鏡 ,  電子顕微鏡観察
準シソーラス用語： *ルテニウム酸塩 ,  電場補償 ,  電気容量

分類 (1件)： 強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B)

タイトルに関連する用語 (5件)： 極性 ,  界面 ,  原子スケール ,  補償 ,  現象