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J-GLOBAL ID：201002238443722202   整理番号：10A1456619

超伝導性で硬いNbCのエピタキシャル膜への化学溶液法アプローチ

A chemical solution approach for superconducting and hard epitaxial NbC film

著者 (16件)： ZOU Guifu (Los Alamos National Lab., NM, USA) ,  LUO Hongmei (New Mexico State Univ., NM, USA) ,  ZHANG Yingying (Los Alamos National Lab., NM, USA) ,  XIONG Jie (Los Alamos National Lab., NM, USA) ,  WEI Qiangmin (Los Alamos National Lab., NM, USA) ,  ZHUO Mujin (Los Alamos National Lab., NM, USA) ,  ZHAI Junyi (Los Alamos National Lab., NM, USA) ,  WANG Haiyan (Texas A&M Univ., TX, USA) ,  WILLIAMS Darrick (Los Alamos National Lab., NM, USA) ,  LI Nan (Texas A&M Univ., TX, USA) ,  BAUER Eve (Los Alamos National Lab., NM, USA) ,  ZHANG Xinghang (Texas A&M Univ., TX, USA) ,  MCCLESKEY Thomas M. (Los Alamos National Lab., NM, USA) ,  LI Yanrong (Univ. Electronic Sci. and Technol. China, Sichuan, CHN) ,  BURRELL Anthony K. (Los Alamos National Lab., NM, USA) ,  JIA Q. X. (Los Alamos National Lab., NM, USA)
資料名： Chemical Communications  (Chemical Communications)
巻： 46  号： 41  ページ： 7837-7839  発行年： 2010年11月07日 
JST資料番号： D0376B  ISSN： 1359-7345  CODEN： CHCOFS  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： サファイヤ基板c面上に水溶性高分子援助化学変換により炭化ニオブの薄膜をエピタキシャル成長させた。走査電子顕微鏡,透過型電子顕微鏡,高分解能電子顕微鏡,X線回折,エネルギー分散X線分光分析によりキャラクタリゼーションを行った。電気抵抗および磁化率の温度依存性を調べた。10K近傍から超伝導転移が観測され,文献に比べて高い臨界温度を示した。圧入試験による平均硬度は19.54GPa,ヤング率は372GPaであり,バルク炭化ニオブに近い。

シソーラス用語： *ニオブ化合物 ,  *炭化物 ,  *薄膜 ,  結晶成長 ,  *エピタクシー ,  *サファイア ,  結晶面 ,  水溶性高分子 ,  溶液成長 ,  表面構造 ,  X線回折 ,  高分解能電子顕微鏡 ,  透過型電子顕微鏡 ,  エネルギー分散X線分光分析 ,  走査電子顕微鏡 ,  原子間力顕微鏡 ,  電気抵抗 ,  磁化率 ,  温度依存性 ,  押込 ,  硬度 ,  Young率 ,  *超伝導 ,  臨界温度
準シソーラス用語： インデンテーション ,  化学溶液法 ,  *炭化ニオブ

分類 (4件)： 塩  (CD01050V) ,  その他の無機化合物の薄膜  (BK14060A) ,  その他の超伝導体の物性  (BM04025Q) ,  固体の機械的性質一般  (BL01021C)

タイトルに関連する用語 (2件)： エピタキシャル膜 ,  化学溶液法