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J-GLOBAL ID：201002239093938289   整理番号：10A0201578

干渉変調を用いた電場較正電気光学プローブ

Field-calibrated electro-optic probe using interferometric modulations

著者 (4件)： LEE Dong-joon (Center for Electromagnetic Waves, Korea Res. Inst. of Standards and Sci., 1 Doryong-dong, Yuseong-gu, Daejeon ...) ,  KANG No-weon (Center for Electromagnetic Waves, Korea Res. Inst. of Standards and Sci., 1 Doryong-dong, Yuseong-gu, Daejeon ...) ,  KWON Jae-yong (Center for Electromagnetic Waves, Korea Res. Inst. of Standards and Sci., 1 Doryong-dong, Yuseong-gu, Daejeon ...) ,  KANG Tae-weon (Center for Electromagnetic Waves, Korea Res. Inst. of Standards and Sci., 1 Doryong-dong, Yuseong-gu, Daejeon ...)
資料名： Journal of the Optical Society of America. B. Optical Physics  (Journal of the Optical Society of America. B. Optical Physics)
巻： 27  号： 2  ページ： 318  発行年： 2010年02月 
JST資料番号： C0977A  ISSN： 0740-3224  CODEN： JOBPDE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 変調ビームの干渉を用いた非常に簡明な電場較正電気光学プローブについて示す。干渉フリンジ勾配と,電場誘起電気光学位相遅延を利用して,センサプローブによる干渉電気光学的センシングのためのモデルを提案した。センシングのダイナミックレンジは,プローブビームの偏光に対して変調勾配と遅延を調べることにより実験的に調べた。プローブはマイクロストリップ線により,45dB以上のダイナミックレンジを示した。この感度は,放射性電子デバイスの電場画像の実現を可能にする。プローブの絶対感度は,プローブ較正の信頼できる強度を持った正確な電場を発生するマイクロTEMセルでもまた決定する。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *電気光学効果 ,  干渉縞 ,  ダイナミックレンジ ,  マイクロストリップ線路 ,  プローブ ,  キャリブレーション ,  光変調 ,  タンタル酸リチウム ,  受信アンテナ
準シソーラス用語： 干渉変調 ,  位相遅れ ,  *電気光学プローブ

分類 (1件)： 電磁気的量の計測一般  (AD07010R)

タイトルに関連する用語 (5件)： 干渉 ,  変調 ,  電場 ,  較正 ,  光学プローブ