文献

J-GLOBAL ID：201002239133628229   整理番号：10A1416214

実速度スキャン試験のためのキャプチャセーフテスト生成方式

A capture-safe test generation scheme for at-speed scan testing

著者 (11件)： WEN X ,  MIYASE K ,  KAJLHARA S ,  FURUKAWA H ,  YAMATO Y ,  TAKASHIMA A ,  NODA K ,  ITO H ,  HATAYAMA K ,  AIKYO T ,  SALUJA Kk
資料名： PROCEEDINGS OF THE 13TH IEEE EUROPEAN TEST SYMPOSIUM: ETS 2008
ページ： 55-60  発行年： 2008年 
JST資料番号： I20080531  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： その他 (ZZZ)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (2件)： スキャン ,  試験