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J-GLOBAL ID：201002241044402688   整理番号：10A0366316

有機発光ダイオードの微分時効現象と多結晶珪素薄膜トランジスタの不均一電気特性に対するビデオデータ補正を用いた単純な画素構造

Simple Pixel Structure Using Video Data Correction Method for Nonuniform Electrical Characteristics of Polycrystalline Silicon Thin-Film Transistors and Differential Aging Phenomenon of Organic Light-Emitting Diodes

著者 (2件)： IN Hai-Jung (Hanyang Univ., Seoul, KOR) ,  KWON Oh-Kyong (Hanyang Univ., Seoul, KOR)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 49  号： 3,Issue 2  ページ： 03CD04.1-03CD04.5  発行年： 2010年03月25日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： アクティブマトリックス有機発光ダイオード(AMOLED)表示装置のOLEDの劣化と駆動薄膜トランジスタ(TFT)の電気特性変化を補償するために,ビデオデータ補正法を用いた単純な画素構造を提案した。提案した方法はTFTとOLEDの電気特性を感知し,外部メモリに蓄える。TFTの不均一放出電流とOLEDの時効現象は,蓄積データを用いたビデオデータを変調して補正する。実験では,補償前の駆動TFTの電気特性変化に起因した放出電流誤差-63.1~61.4%が提案した補正法により-1.9~1.9%に減少した。50%劣化したOLEDに提案手法を適用した場合,OLED劣化に起因する輝度誤差は<1.8%であった。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *発光ダイオード ,  *薄膜トランジスタ ,  電気特性 ,  補正 ,  劣化 ,  現象 ,  時効 ,  アクティブマトリックス ,  *表示装置 ,  構造 ,  画素
準シソーラス用語： *有機発光ダイオード ,  ビデオデータ補正 ,  時効現象 ,  画素構造

分類 (1件)： 表示機器  (NC06030Q)

引用文献 (14件)：

• S. D. Brotherton, J. R. Ayres, M. J. Edwards, C. A. Fisher, C. Glaister, J. P. Gowers, D. J. McCulloch, and M. Trainor: Thin Solid Films 337(1999)188.
• X. Guo and S. R. P. Silva: IEEE Trans. Electron Devices 52(2005)2379.
• H. Kubota, S. Miyaguchi, S. Ishizuka, T. Wakimoto, J. Funaki, Y. Fukuda, T. Watanabe, H. Ochi, T. Sakamoto, T. Miyake, M. Tsuchida, I. Ohshita, and T. Tohma: J. Lumin.87-89(2000)56.
• Y.-W. Kim, S.-R. Lee, and O.-K. Kwon: Proc. EuroDisplay, 2002, p. 613.
• B.-T. Chen, Y.-H. Tai, Y.-J. Kuo, C.-C. Tsai, and H.-C. Cheng: Solid-State Electron.50(2006)272.

タイトルに関連する用語 (11件)： 有機発光ダイオード ,  微分 ,  時効 ,  現象 ,  多結晶珪素 ,  薄膜トランジスタ ,  不均一 ,  電気特性 ,  ビデオ ,  データ補正 ,  画素構造