DEUTSCH Alina について
IBM T.J. Watson Res. Center, NY, USA について
KRABBENHOFT Roger S. について
IBM Systems and Technol. Group, MN, USA について
MELDE Kathleen L. について
Univ. Arizona, AZ, USA について
SUROVIC Christopher W. について
IBM T.J. Watson Res. Center, NY, USA について
KATOPIS George A. について
IBM System and Technol. Group, NY, USA について
KOPCSAY Gerard V. について
IBM T.J. Watson Res. Center, NY, USA について
ZHOU Zhen について
Univ. Arizona, AZ, USA について
CHEN Zhaoqing について
IBM System and Technol. Group, NY, USA について
KWARK Young H. について
IBM T.J. Watson Res. Center, NY, USA について
WINKEL Thomas-Michael について
IBM System and Technol. Group, Boeblingen, DEU について
GU Xiaoxiong について
IBM T.J. Watson Res. Center, NY, USA について
STANDAERT Theodorus E. について
IBM Albany NanoTech, NY, USA について
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility について
伝送特性 について
インピーダンス について
帯域幅 について
挿入損 について
TDR について
バンド幅 について
挿入損失 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
プリント回路 について
PCB について
相互接続 について
広帯域 について
特性評価 について
パルス伝搬 について
手法 について
応用 について