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J-GLOBAL ID：201002241859676928   整理番号：10A1114387

FEMと田口メソッドを組み合わせて使用したXLPEケーブル絶縁の水トリー劣化に関する数値解析

Numerical analysis on water treeing deterioration of XLPE cable insulation using combination of FEM and Taguchi method

著者 (8件)： KIM Chonung (Shanghai Jiao Tong Univ., Shanghai, CHN) ,  KIM Chonung (Kim Chaek Univ. Technol., Pyongyang, PRK) ,  DUAN Jingkuan (Shanghai Jiao Tong Univ., Shanghai, CHN) ,  HUANG Xingyi (Shanghai Jiao Tong Univ., Shanghai, CHN) ,  KIM Soknam (Pyongyang 326 Cable & Wire Factory, Pyongyang, PRK) ,  JIANG Pingkai (Shanghai Jiao Tong Univ., Shanghai, CHN) ,  KIM Hyeil (Kim Chaek Univ. Technol., Pyongyang, PRK) ,  HYON Sungil (Pyongyang 326 Cable & Wire Factory, Pyongyang, PRK)
資料名： European Transactions on Electrical Power  (European Transactions on Electrical Power)
巻： 20  号： 6  ページ： 747-759  発行年： 2010年09月 
JST資料番号： C0985C  ISSN： 1430-144X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： FEM(有限要素法)と田口メソッドを使用して,XLPEケーブル絶縁の水トリー成長に影響する材料要因について調査した。XLPE(架橋ポリエチレン)電力ケーブルの絶縁劣化をもたらす水トリーの成長には外部要因(運用要因)と内部要因(材料要因)が影響する。運用要因については多くの研究がなされてきたが,材料要因に関する研究は少ない。本研究では,水トリー・チップにおける電界分布への影響に関する個々の材料要因の寄与度を調査した。その際,熱による劣化も考慮に入れた。数値解析と実験の結果,水トリーとXLPE母材の誘電特性が,水トリーの幾何学パターンよりもチップ内の電界強度の強化に大きな影響を与えることが示された。また,水トリー内部の誘電率分布が,全ての材料要因の中で最も影響の大きい要因であることも示された。

シソーラス用語： *水トリー ,  XLPE ,  *絶縁劣化 ,  有限要素法 ,  電力ケーブル ,  田口メソッド ,  誘電性 ,  電位分布
準シソーラス用語： 電界分布 ,  誘電特性

分類 (1件)： 絶縁材料  (NA04030W)

タイトルに関連する用語 (6件)： FEM ,  田口メソッド ,  XLPE ,  ケーブル絶縁 ,  水トリー ,  数値解析