固体光化学蒸着法によるZrO<sub>2</sub>:Sm非晶質薄膜の調製と特性評価

CABELLO G.; LILLO L.; CARO C.; CHORNIK B.; SOTO M.a.; DEL RIO R.; TEJOS M.

文献

J-GLOBAL ID：201002242023671235 整理番号：10A0831060

固体光化学蒸着法によるZrO₂:Sm非晶質薄膜の調製と特性評価

Preparation and characterization of ZrO₂:Sm amorphous thin films by solid state photochemical deposition method

出版者サイト複写サービスで全文入手 {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=10A0831060&COPY=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=10A0831060&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=C0202A") }}

著者 (7件)： , , , , , ,
資料名：
巻： 71 号： 9 ページ： 1367-1372 発行年： 2010年09月
JST資料番号： C0202A ISSN： 0022-3697 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

前駆体としての金属アセチルアセトナート錯体の薄膜を用いて光化学的方法により10,30および50mol%Smを装荷したZrO₂薄膜を調製した。これらの膜の光分解は,アセチルアセトナト配位子の崩壊そして揮発性有機化合物とともに金属イオンの部分的還元を誘起した。金属錯体を空気にさらすとき,その反応の生成物は金属酸化物である。FT-IR分光法によりこれらの膜の光反応性を測定し,それに続いてポストアニーリング処理を行なった。得られた膜をX線光電子分光法および原子間力顕微鏡法により特性評価した。膜の光ルミネセンス研究は,存在するSmイオンの励起に400nm放射を採用した。発光スペクトルは,⁴G_5/2→⁶H_J(J=3/2,7/2,9/2)遷移から生じる信号を示した。ここでは⁴G_5/2→⁶H_3/2遷移が最高の強度をもっていた。PL強度の濃度依存性も研究した。10mol%Sm含有量の場合に最大のPL強度が観測されたが,次いでSm濃度がより高くなるにつれて強度は減少した。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

, , , , , , , , , , , , ,

酸化物薄膜

, , , , , ,

前のページに戻る

固体光化学蒸着法によるZrO2:Sm非晶質薄膜の調製と特性評価

固体光化学蒸着法によるZrO₂:Sm非晶質薄膜の調製と特性評価