1GHz以上のGTEMセル内において参照としての様々なタイプのプローブを利用したプローブ・キャリブレーション

WU Ifong; ISHIGAMI Shinobu; GOTOH Kaoru; MATSUMOTO Yasushi

文献

J-GLOBAL ID：201002242368847310 整理番号：10A0379561

1GHz以上のGTEMセル内において参照としての様々なタイプのプローブを利用したプローブ・キャリブレーション

Probe calibration by using a different type of probe as a reference in GTEM cell above 1GHz

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著者 (4件)： , , ,
資料名：
巻： 7 号： 6 ページ： 460-466 (J-STAGE) 発行年： 2010年
JST資料番号： U0039A ISSN： 1349-2543 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

参照として様々なタイプおよびサイズのプローブを用いた電界プローブのキャリブレーションを1~6GHzのGTEMセルにおいて実行する。我々の結果を無響室におけるキャリブレーションの結果と比較してキャリブレーションの有効性を決定する。電界分布が均一でないようなエリアにおいてプローブのキャリブレーションが行われるときに,GTEMセルと無響室のキャリブレーションファクタ間の差異は増大する。したがって,様々な寸法をもつ電界プローブのキャリブレーションを行うときには,GTEMセルにおいて良好な均一性をもつエリアにプローブを置くか,または,電界の均一性を維持するかが重要である。(翻訳著者抄録)

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電磁気学一般

引用文献 (7件)：

[1] S. Ishigami, H. Masuzawa, I. Nishiyama, T. Shinozuka, and Y. Yamanaka, “EM probe calibration by using open-ended waveguides, Part. 1,”IEICE Technical Report, EMCJ2002-50, pp. 49-54, 2002.
[2] S. Ishigami, H. Masuzawa, I. Nishiyama, T. Shinozuka, and Y. Yamanaka, “EM probe calibration by using open-ended waveguides, Part. 2,”Proc. IEICE Gen. Conf. '03, SB-2-7, 2003.
[3] IEEE Standards 1309: IEEE standard for calibration of electromagnetic field sensors and probes, excluding antennas, from 9kHz to 40GHz, 2005.
[4] S. Ishigami, M. Hanazawa, T. Shinozuka, and Y. Yamanaka, “Uncertainty of EM probe calibration by using TEM cell, ”Proc. IEICE-ESS Conf. IEICE '03, B-4-43, 2003.
[5] S. Ishigami and Y. Yamanaka, “Uncertainty of EM-probe calibration by using TEM cell (2), ”IEICE Technical Report, EMCJ2004-3, pp. 14-17, 2004.

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