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J-GLOBAL ID：201002243037970550   整理番号：10A0166269

OLED素子に使用したAlq₃とNPB薄膜の相当弾性係数に関するナノ押込み研究

A nano-indentation study of the reduced elastic modulus of Alq₃ and NPB thin-film used in OLED devices

著者 (4件)： CHIANG Chien-jung (Inst. of Photonic Materials, Dep. of Physics, Durham Univ., DH1 3LE, GBR) ,  BULL Steve (School of Chemical Engineering and Advanced Materials, Univ. of Newcastle upon Tyne, NE1 7RU, GBR) ,  WINSCOM Chris (Centre for Phosphor and Display Materials, The Wolfson Centre for Materials Processing, Brunel Univ., UXBRIDGE UB8 ...) ,  MONKMAN Andy (Inst. of Photonic Materials, Dep. of Physics, Durham Univ., DH1 3LE, GBR)
資料名： Organic Electronics  (Organic Electronics)
巻： 11  号： 3  ページ： 450-455  発行年： 2010年03月 
JST資料番号： W1352A  ISSN： 1566-1199  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 種々の硬度を有する二種類の基板上に薄膜として二種類の通常使用されている有機発光ダイオード(OLED)材料トリス-(8-ヒドロキシキノリン)アルミニウム(Alq₃)とN,N′-ビス(ナフタレン-1-イル)-N,N′-ビス(フェニル)ベンジジン(NPB)を熱蒸着した。ナノ押込み技法を用いることによって,各々の被膜の相当弾性係数を測定した。標準OliverとPharr法及び基板の効果を良く説明できる開発された臨界押込み深さ法を通してデータを注意深く解析した。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *発光ダイオード ,  有機半導体 ,  真空蒸着 ,  *蒸着膜 ,  ポリエチレンテレフタレート繊維 ,  高分子膜 ,  ウエハ【IC】 ,  *弾性係数 ,  *ナノインデンテーション ,  硬さ試験 ,  載荷試験 ,  データ解析 ,  硬度
準シソーラス用語： ケイ素ウエハ ,  ナノ押込 ,  押込試験 ,  高分子フィルム ,  熱蒸着 ,  有機発光ダイオード

分類 (2件)： 半導体薄膜  (BK14040E) ,  発光素子  (NC03082G)

物質索引 (2件)： トリス(8-ヒドロキシキノリン)アルミニウム ,  N,N′-ビス(1-ナフチル)-N,N′-ジフェニル-1,1′-ビフェニル-4,4′-ジアミン

タイトルに関連する用語 (4件)： NPB ,  薄膜 ,  ナノ押込み ,  研究