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J-GLOBAL ID：201002243389416293   整理番号：10A0589486

電気的に小型のマイクロエレクトロニクスデバイスの効率的過渡解析用のよく条件付けされた積分方程式の定式化

A Well-Conditioned Integral-Equation Formulation for Efficient Transient Analysis of Electrically Small Microelectronic Devices

著者 (5件)： BAGCI Hakan (Univ. Michigan, MI, USA) ,  ANDRIULLI Francesco P. (Politecnico di Torino, Torino, ITA) ,  VIPIANA Francesca (Politecnico di Torino, Torino, ITA) ,  VECCHI Giuseppe (Politecnico di Torino, Torino, ITA) ,  MICHIELSSEN Eric (Univ. Michigan, MI, USA)
資料名： IEEE Transactions on Advanced Packaging  (IEEE Transactions on Advanced Packaging)
巻： 33  号： 2  ページ： 468-480  発行年： 2010年05月 
JST資料番号： W0590A  ISSN： 1521-3323  CODEN： ITAPFZ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： パッケージング技術の絶え間ない進歩により,電気的に小型で形状的に複雑な部品を集積する高密度モジュールや基板の製作が可能になった。このような新しい技術成果をタイミングよく市場に提供するには,そのような構造の電磁特性評価するシミュレーションツールが必要である。本稿では,時間領域と容積電界積分方程式(TD-S-とV-EFIEs)の組合せにおける時間領域低周波ブレークダウン現象の詳細な分析について報告した。階層的正則化法を拡張し,TD-EFIEsの組合せシステムの条件付けを行った。また,階層的正則化MOT(marching-on-in-time)システムマトリクスに適用した場合,条件数と相互作用数をさらに減少させるブロック傾斜条件付け法を導いた。この方法の具体的適用事例を示した。

シソーラス用語： *実装設計 ,  キャラクタリゼーション ,  計算機シミュレーション ,  *信号解析 ,  積分方程式 ,  正則化 ,  相互作用 ,  条件付け ,  マイクロエレクトロニクス ,  絶縁破壊 ,  *電子部品 ,  電磁場解析
準シソーラス用語： *時間領域解析

分類 (2件)： プリント回路  (NA05040O) ,  数値計算  (JE02000J)

タイトルに関連する用語 (5件)： マイクロエレクトロニクスデバイス ,  過渡解析 ,  条件付け ,  積分方程式 ,  定式化