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J-GLOBAL ID：201002244195180384   整理番号：10A0703001

四層Aurivillius相Na_0.5La_0.5Bi₄Ti₄O₁₅二関する構造特性,誘電特性および強誘電特性

Structural, dielectric and ferroelectric properties of four-layer Aurivillius phase Na_0.5La_0.5Bi₄Ti₄O₁₅

著者 (2件)： KUMAR Sunil (Materials Res. Centre, Indian Inst. of Sci., Bangalore 560012, IND) ,  VARMA K.b.r. (Materials Res. Centre, Indian Inst. of Sci., Bangalore 560012, IND)
資料名： Materials Science & Engineering. B. Advanced Functional Solid-State Materials  (Materials Science & Engineering. B. Advanced Functional Solid-State Materials)
巻： 172  号： 2  ページ： 177-182  発行年： 2010年08月25日 
JST資料番号： T0553A  ISSN： 0921-5107  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 単相Na_0.5La_0.5Bi₄Ti₄O₁₅粉体を,伝統的な固相反応経路を介して合成した。合成したままの粉体試料について,粉末X線回折(XRD),制限視野電子回折(SAED)および高分解能透過型電子顕微鏡(HRTEM)研究を行い,この相が,斜方晶系A2₁am空間群に結晶化した四層Aurivillius相であることを確認した。焼結試料の微細構造と化学組成を,エネルギー分散X線分析計(EDX)付の走査電子顕微鏡(SEM)で調べた。このセラミックの誘電特性を,27~700°Cの範囲で,100Hz~1MHzの周波数範囲で調べた。全周波数で,強誘電-常誘電相転移に対応する鋭い誘電異常を580°Cで観測した。飽和した強誘電ヒステリシスループを200°Cで観測した。付随する残留分極(P_r)と抗電場(E_c)は,それぞれ7.4μC/cm²および34.8kV/cmであった。AC電気伝導率解析は,強誘電領域における2種類の伝導機構の存在を確認した。Arrheniusプロットから計算した活性化エネルギーは,温度範囲300~450°Cおよび450~580°Cにおいて,それぞれ約0.24eVおよび約0.84eVであった。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： 相 ,  *層状化合物 ,  ナトリウム化合物 ,  ランタン化合物 ,  ビスマス化合物 ,  *チタン酸塩 ,  *強誘電体 ,  固相反応 ,  X線回折 ,  *結晶構造 ,  高分解能電子顕微鏡 ,  透過型電子顕微鏡 ,  制限視野回折 ,  斜方晶系 ,  空間群 ,  焼結 ,  微細構造 ,  化学組成 ,  エネルギー分散蛍光X線分析 ,  セラミック ,  誘電率 ,  誘電損失 ,  ヒステリシス ,  温度依存性 ,  電気伝導率 ,  周波数依存性 ,  曲線 ,  誘電転移 ,  残留分極 ,  抗電場 ,  活性化エネルギー ,  Arrheniusの式
準シソーラス用語： Aurivillius相 ,  HRTEM ,  ヒステリシスループ ,  粉末X線回折

分類 (2件)： 金属酸化物及び金属カルコゲン化物の結晶構造  (BK07020Y) ,  強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B)

タイトルに関連する用語 (5件)： 四層 ,  Aurivillius相 ,  構造特性 ,  誘電特性 ,  強誘電特性