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J-GLOBAL ID：201002248316138610   整理番号：10A0525237

耐永久故障FPGAアーキテクチャ

Fault-tolerant FPGA Architecture

著者 (5件)： 岡田崇志 (東大 大学院情報理工学系研究科) ,  喜多貴信 (東大 大学院情報理工学系研究科) ,  塩谷亮太 (東大 大学院情報理工学系研究科) ,  五島正裕 (東大 大学院情報理工学系研究科) ,  坂井修一 (東大 大学院情報理工学系研究科)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 110  号： 3(DC2010 1-7)  ページ： 33-37  発行年： 2010年04月06日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 宇宙で使用される電子機器は,放射線によりシングル・イベント効果などの故障を引き起こしやすいため,高い放射線耐性が要求される。また修理,交換が困難なこともあり,自律的に故障から回復する機構が求められる。本稿では,通常用途のFPGA(Field-Programmable Gate Array)にわずかなハードウェアを追加するだけで,過渡故障,永久故障に対する耐性を付加する手法を提案する。本手法では,機能回復ロジックをFPGAのユーザロジック上に構成することで,コンフィギュレーションデータを計算するための追加ハードウェアの必要をなくす。この手法により生じる面積オーバヘッドは小さいため,通常用途と高信頼用途の両立が可能であると考えられる。(著者抄録)

シソーラス用語： *フォールトトレランス ,  *FPGA ,  再構成 ,  冗長方式 ,  故障検出 ,  障害回復
準シソーラス用語： 動的再構成

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (4件)： 永久 ,  故障 ,  FPGA ,  アーキテクチャ