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J-GLOBAL ID：201002249075585463   整理番号：10A0425225

高エネルギーX線を用いた放射光蛍光X線分析法の進歩と文化財科学への応用

著者 (1件)： 寺田靖子 (高輝度光科学研究セ)
資料名： 日本化学会講演予稿集  (日本化学会春季年会講演予稿集)
巻： 90th  号： 1  ページ： 139  発行年： 2010年03月12日 
JST資料番号： S0493A  ISSN： 0285-7626  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *蛍光X線分析 ,  非破壊測定 ,  マイクロプローブ ,  *シンクロトロン放射 ,  放射光施設 ,  多変量解析 ,  陶磁器 ,  検出限界 ,  主成分分析 ,  クラスタ形成
準シソーラス用語： SPring-8 ,  *文化財計測 ,  産地推定 ,  九谷焼 ,  伊万里焼

分類 (2件)： X線スペクトル  (BH03040J) ,  その他の物理分析  (CC03014E)

タイトルに関連する用語 (6件)： 高エネルギーX線 ,  放射光 ,  蛍光X線分析法 ,  文化財 ,  科学 ,  応用