文献

J-GLOBAL ID：201002249954846408   整理番号：10A0657484

アモルファス有機薄膜の特性評価と分光エリプソメトリー測定に関する精密モデルの決定

Characterization of amorphous organic thin films, determination of precise model for spectroscopic ellipsometry measurements

著者 (7件)： FARAHZADI Azadeh (Inst. of Physics (IA), RWTH Aachen Univ. of Technol., 52056 Aachen, DEU) ,  BEIGMOHAMADI Maryam (Inst. of Physics (IA), RWTH Aachen Univ. of Technol., 52056 Aachen, DEU) ,  NIYAMAKOM Phenwisa (Inst. of Physics (IA), RWTH Aachen Univ. of Technol., 52056 Aachen, DEU) ,  KREMERS Stephan (Inst. of Physics (IA), RWTH Aachen Univ. of Technol., 52056 Aachen, DEU) ,  MEYER Nico (AIXTRON AG, Kackertstr. 15-17, 52072 Aachen, DEU) ,  HEUKEN Michael (AIXTRON AG, Kackertstr. 15-17, 52072 Aachen, DEU) ,  WUTTIG Matthias (Inst. of Physics (IA), RWTH Aachen Univ. of Technol., 52056 Aachen, DEU)
資料名： Applied Surface Science  (Applied Surface Science)
巻： 256  号： 22  ページ： 6612-6617  発行年： 2010年09月01日 
JST資料番号： B0707B  ISSN： 0169-4332  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： トリス(8-ヒドロキシキノリン)アルミニウム(Alq₃),N,N′-ジフェニル-N,N′-ビス(1-ナフチル)-1-1′ビフェニル-4,4′′ジアミン(α-NPD),そして,OLED応用のための他のアモルファス有機,例えば,4,4-ビス(2,2-ジフェニルビニル)-1,1-ビフェニル(DPVBI)及びスピロ-DPVBIの光学特性を,多重角分光エリプソメトリー(SE)によって研究した。これら物質の薄膜は.有機気相成長(OVPD)によって蒸着した。構造特性評価は原子間力顕微鏡(AFM)とX線リフレクトメトリ(XRR)を用いて行われた。これら異なる独立した技術を用いた測定を比較することにより,これら薄膜の誘電関数の光学モデルの精密な決定が可能になる。Alq₃とα-NPDに対する詳細な解析により,Gauss型広がりのKimモデルが,よく用いられる調和振動子モデルよりもエリプソメトリーデータに非常によくフィッティングすることが示された。この結果は,他のOLED応用のためのアモルファス有機試料,例えば,DPVBIとSpiro-DPVBIで同様の測定を行うことによって,さらに検証された。この結果は,有機分子の電子状態の特性によって説明できる。Copyright 2010 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *非晶質半導体 ,  *有機半導体 ,  半導体薄膜 ,  *偏光解析法 ,  分光測光 ,  スピロ化合物 ,  *気相成長 ,  原子間力顕微鏡 ,  X線反射 ,  誘電関数 ,  *光学模型 ,  有機化合物
準シソーラス用語： 光学モデル ,  有機気相成長

分類 (2件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  光物性一般  (BM08010A)

物質索引 (3件)： トリス(8-ヒドロキシキノリン)アルミニウム ,  α-NPD ,  4,4′-ビス(2,2-ジフェニルエテニル)-1,1′-ビフェニル

タイトルに関連する用語 (5件)： アモルファス ,  有機薄膜 ,  特性評価 ,  分光エリプソメトリー ,  モデル