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J-GLOBAL ID：201002250513813928   整理番号：10A0284824

非適合の導波路ポートをもつベクトルネットワークアナライザの較正に関する拡張型スルーショート遅延技法

Extended Through-Short-Delay Technique for the Calibration of Vector Network Analyzers With Nonmating Waveguide Ports

著者 (5件)： PEVERINI Oscar Antonio (Politecnico di Torino, Turin, ITA) ,  ADDAMO Giuseppe (Politecnico di Torino, Turin, ITA) ,  TASCONE Riccardo (Politecnico di Torino, Turin, ITA) ,  VIRONE Giuseppe (Politecnico di Torino, Turin, ITA) ,  ORTA Renato (Politecnico di Torino, Turin, ITA)
資料名： IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques  (IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques)
巻： 58  号： 2  ページ： 440-450  発行年： 2010年02月 
JST資料番号： C0229A  ISSN： 0018-9480  CODEN： IETMAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： マイクロ波やミリ波システムでは,特定の用途に対応して導波管部品が異なる断面サイズのポートをもつ場合が多い。このような素子の試験においては被測定物に対し非適合の導波管ポートをもつベクトルネットワークアナライザ(VNA)を用い,特定のキャリブレーションを施す手法が用いられている。ここでは,このようなキャリブレーションにおけるスルーショート遅延(TSD)技法の拡張型を提案した。この技法は既知のTSD技法の精度を維持しつつ,異なる断面をもつ2つの導波管ポートを用いるVNAを較正できる。この方法をVNAの較正に通常用いられる相互短絡解放負荷技法及び理論的データと比較した結果を示した。

シソーラス用語： *導波管部品 ,  *マイクロ波測定 ,  キャリブレーション ,  *ネットワークアナライザ ,  S行列
準シソーラス用語： Sパラメータ ,  *ベクトルネットワークアナライザ

分類 (3件)： その他の電磁気的量の計測法・機器  (AD07070F) ,  通信測定一般  (ND03000R) ,  その他の伝送回路素子  (NC04070U)

タイトルに関連する用語 (8件)： 導波路 ,  ポート ,  ベクトルネットワークアナライザ ,  較正 ,  拡張 ,  ショート ,  遅延 ,  技法